企业商机
低本底Alpha谱仪基本参数
  • 品牌
  • 泰瑞迅
  • 型号
  • RLA200
  • 适用范围
  • 适用于各种环境样品以及环境介质中人工放射性α核素的监测。
  • 加工定制
  • 外形尺寸
  • 361*470*180
  • 工作电压
  • 220
  • 测量范围
  • 0-10Mev
  • 电源
  • 220V
  • 重量
  • 15KG
  • 产地
  • 苏州
  • 厂家
  • 苏州泰瑞迅科技有限公司
低本底Alpha谱仪企业商机

低本底α谱仪,PIPS探测器,多尺寸适配与能谱分析‌探测器提供300/450/600/1200mm²四种有效面积选项,其中300mm²型号在探-源距等于直径时,对241Am(5.49MeV)的能量分辨率≤20keV,适用于核素精细识别‌。大尺寸探测器(如1200mm²)可提升低活度样本的信噪比,配合数字多道分析器(≥4096道)实现0~10MeV全能量覆盖‌。系统内置自动增益校准功能,通过内置参考源(如241Am)实时校正能量刻度,确保不同探测器间的数据一致性‌。低本底Alpha谱仪 ,就选苏州泰瑞迅科技有限公司,用户的信赖之选,有想法可以来我司咨询!永嘉辐射测量低本底Alpha谱仪定制

永嘉辐射测量低本底Alpha谱仪定制,低本底Alpha谱仪

PIPS探测器α谱仪配套质控措施‌‌期间核查‌:每周执行零点校正(无源本底测试)与单点能量验证(²⁴¹Am峰位偏差≤0.1%)‌;‌环境监控‌:实时记录探测器工作温度(-20~50℃)与真空度变化曲线,触发阈值报警时暂停使用‌;‌数据追溯‌:建立校准数据库,采用Mann-Kendall趋势分析法评估设备性能衰减速率‌。该方案综合设备使用强度、环境应力及历史数据,实现校准资源的科学配置,符合JJF 1851-2020与ISO 18589-7的合规性要求‌。龙湾区泰瑞迅低本底Alpha谱仪生产厂家苏州泰瑞迅科技有限公司为您提供低本底Alpha谱仪 ,欢迎您的来电哦!

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RLA低本底α谱仪系列:能量分辨率与核素识别能力‌能量分辨率**指标(≤20keV)基于探测器本征性能与信号处理算法协同优化,采用数字成形技术(如梯形成形时间0.5~8μs可调)抑制高频噪声‌。在241Am标准源测试中,5.49MeV主峰半高宽(FWHM)稳定在18~20keV,可清晰区分Rn-222子体(如Po-218的6.00MeV与Po-214的7.69MeV)的相邻能峰‌。软件内置核素库支持手动/自动能峰匹配,对混合样品中能量差≥50keV的核素识别准确率>99%‌。。

环境适应性及扩展功能‌系统兼容-10℃~40℃工作环境,湿度适应性≤85%RH(无冷凝),满足野外核应急监测需求‌。通过扩展接口可联用气溶胶采样器(如ZRX-30534型,流量范围10-200L/min),实现从采样到分析的全程自动化‌。软件支持多任务队列管理,单批次可处理24个样品,配合机器人样品台将吞吐量提升至48样本/天‌。‌ 质量控制与标准化操作‌遵循ISO 18589-7标准建立质量控制体系,每批次测量需插入空白样与参考物质(如NIST SRM 4350B)进行数据验证‌。样品测量前需执行本底扣除流程,并通过3σ准则剔除异常数据点。报告自动生成模块可输出活度浓度、不确定度及能谱拟合曲线,兼容LIMS系统对接‌。维护周期建议每500小时更换真空泵油,每年进行能量刻度复检,确保系统持续符合出厂性能指标‌。苏州泰瑞迅科技有限公司力于提供低本底Alpha谱仪 ,有需求可以来电咨询!

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RLA低本底α谱仪系列:探测效率优化与灵敏度控制‌探测效率≥25%的指标在450mm²探测器近距离(1mm)模式下达成,通过蒙特卡罗模拟优化探测器倾角与真空腔室几何结构‌。系统集成死时间补偿算法(死时间≤10μs),在104cps高计数率下仍可维持效率偏差<2%‌。结合低本底设计(>3MeV区域≤1cph),**小可探测活度(MDA)可达0.01Bq/g级,满足环境监测标准(如EPA 900系列)要求‌。 稳定性保障与长期可靠性‌短期稳定性(8小时峰位漂移≤0.05%)依赖恒温控制系统(±0.1℃)和高稳定性偏压电源(0-200V,波动<0.01%)‌。长期稳定性(24小时漂移≤0.2%)通过数字多道的自动稳谱功能实现,内置脉冲发生器每30分钟注入测试信号,实时校正增益与零点偏移‌。探测器漏电流监测模块(0-5000nA)可预警性能劣化,结合年度校准周期保障设备全生命周期可靠性‌。低本底Alpha谱仪 ,就选苏州泰瑞迅科技有限公司,让您满意,欢迎您的来电!防城港辐射监测低本底Alpha谱仪适配进口探测器

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PIPS探测器与Si半导体探测器的**差异分析‌一、工艺结构与材料特性‌PIPS探测器采用钝化离子注入平面硅工艺,通过光刻技术定义几何形状,所有结构边缘埋置于内部,无需环氧封边剂,***提升机械稳定性与抗环境干扰能力‌。其死层厚度≤50nm(传统Si探测器为100~300nm),通过离子注入形成超薄入射窗(≤50nm),有效减少α粒子在死层的能量损失‌。相较之下,传统Si半导体探测器(如金硅面垒型或扩散结型)依赖表面金属沉积或高温扩散工艺,死层厚度较大且边缘需环氧保护,易因湿度或温度变化引发性能劣化‌。‌永嘉辐射测量低本底Alpha谱仪定制

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