对于该类探测器,基底由Si变为Ge时,其探测波段可从IR延伸到THz,在这里姑且将Si基与Ge基两类放在一起加以阐述。传统的非本征探测器是基于被掺杂的Ge或Si作为吸收材料制作而成的结构简单的PC探测器,主要有Ge:X[X=Hg、Ga、铍(Be)、锌(Zn)]、Si:Y[Y=Ga、砷(As)、铟(In)]等类型。这类探测器的响应范围取决于杂质元素在基底里的离化能量,一般可覆盖LWIR、VLWIR乃至THz波段,但需要在低温(<10K)下工作。由于响应波段很宽,非本征探测器被应用到了航天领域,然而困境也随之出现:在太空中核辐射对探测器响应的影响较大,需要减薄探测器吸收层来降低影响,但这样也会使量子效率降低红外热像仪拥有超广角镜头,可实时监测炉顶料面温度情况、提供可视化燃烧、降低了安全隐患,提高作业效率。靶面式红外热像仪质量保证

红外热像仪QWIP的基础结构是多量子阱结构,虽然该结构可以被许多Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体材料所实现,但基于GaAs/铝镓砷(AlGaAs)材料制作的QWIP是应用***、技术成熟、性能优异的QWIP。对于通过改变GaAs/AlGaAs材料中A1的原子百分比,可使相应的QWIP连续覆盖MIR、LWIR甚至VLWIR波段。GaAs/AlGaAs材料体系在Ⅲ-Ⅴ族半导体材料团体里能一枝独秀的**主要原因是,它与GaAs衬底在所有的A1组分条件下都能实现非常完美的晶格匹配,这一优势使该材料体系的生长技术既成熟又低廉,极大地推动了GaAs/AlGaAs QWIP的发展。一般而言,大家所谓的QWIP都特指GaAs/AlGaAs QWIP。PYROLINE 128N/256N红外热像仪样品无人机采用红外热像仪以后,电力巡线将不再翻山越岭,爬高上低,望远镜也将“退休”。

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nGaAs是由两种Ⅲ-Ⅴ族半导体材料组成的三元系半导体化合物,它的带隙随组分比例的变化而变化。基于此材料制备的IR探测器,其响应截止波长可达到3μm以上,响应范围完全覆盖NIR波段,是该波段探测器团体里**重要的成员。在该体系下,其他化合物性能如下图所示:与其它的常用IR探测器相比,InGaAs探测器的兴起较晚,在上世纪80年代才开始走进人类的视野。近年来,得益于NIR成像的强势崛起,InGaAs的发展势头也十分迅猛。在实际生产中,一般将InGaAs材料生长在磷化铟(InP)衬底上,红外热像仪两者的晶格失配度也会随InGaAs组分的变化而变化。红外热像仪自动报警,发现目标设备温度异常自动报警,存储设备工作状态热图,提示工作人员具**置。

截止目前,红外热像仪HgCdTe材料依旧是制作高性能IR光子探测器的比较好的材料。与InGaAs类似,HgCdTe也是一种三元系半导体化合物,其带隙也会随组分的改变而改变,借此HgCdTe探测器可覆盖1-22μm的超宽波段。HgCdTe探测器在NIR、MIR和LWIR三个波段都能表现出十分优异的性能,所以它问世不久便成为了IR探测器大家族中的霸主。然而,随着近些年InGaAs探测器的兴起,HgCdTe探测器在NIR波段的地位日趋下降;在MIR波段,虽然InSb探测器的探测率不如HgCdTe探测器,但由于InSb的材料生长技术比HgCdTe成熟,HgCdTe探测器在该波段已达不到一家独大的地步;对于LWIR波段,HgCdTe探测器仍具有很强的统治地位。热灵敏度,是指一台红外热像仪分辨细小温差的能力。红外热像仪推荐咨询
红外热像仪是利用红外探测器和光学成像物镜接受被测目标的红外辐射能量分布图形反映到光敏元件上。靶面式红外热像仪质量保证
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