中国计量科学研究院基准髙温装置一高温光电比较仪光路图如下图所示。工作时，光源（小金点黑体炉或温度灯）经物镜成像于调制器7的狭缝上，经调制转换为交流光信号。信号由光导纤维混合、传输，并于聚光透镜焦点上聚焦，经聚光镜和干涉滤光片后，由聚光透镜14均匀地聚焦到光电倍增管的阴极上。
经调制的光相位相反，当两束光亮度不等时，一个交变光能量由光电倍增管接收，使指零仪表不指“0”，调节被检灯电流，以达亮度平衡。若两光源亮度相等，则被检光源的亮度温度就等于标准光源的亮度温度。
黑体开始发展的是高温黑体，早在20世纪50年代，由于光学高温计的应用，当时的苏联和英国已经研制出了黑体炉，最高工作温度可以达到2500℃。20世纪60年代，日本生产出卧式黑体炉，最高工作温度为2200℃;同年代，我国也研制出卧式黑体炉，工作温度为900~3200℃。
在20世纪60年代，中温黑体就有人开始研究，因为当时的技术条件限制，对黑体技术(如黑体腔、等温黑体腔、黑体发射率等)认识不足，甚至将热电偶检定炉的中间放置一个靶子就看作是黑体。
自从美国在越南******使用红外技术，成功地侦察到密林中的胡志明小道后(注:当时胡志明小道是运输线)，拉开了红外技术在***上应用的序幕。随后，各国都开展了红外侦察、红外伪装、红外制导、红外诱饵、空中防卫等技术的研究工作，这就促进了对黑体技术的研究，尤其是对中低温黑体的研究。因此国外在20世纪80年代就已经有低温黑体，我国对低温黑体的研究，是从20世纪90开始。 智能黑体炉直销价额温枪成品的品质检测速度受黑体炉和恒温房所限制，还有主控芯片MCU、运算放大器、外壳等物料动态变化。
概述： WJL—21型中温黑体炉，作为非接触测温仪表标定，分度用的标准辐射源。 二、主要技术参数： 1、辐射孔径φ50或φ25（加光栏） 2、温度范围：300—1300℃范围内任意设定 3、温度控制精度1250±1℃，稳定度1℃/10min 4、工作电源 220V 50HZ 5、比较大恒温功耗不大于1kVA 6、比较大升温功耗不大于3kVA 7、升温时间：室温至1300℃不大于2小时 8、测温热电偶：二等标准铂铑10—铂热电偶（另购） 9、控温热电偶：工业铂铑10—铂热电偶（另购） 10、发热体：一端固定双螺纹硅碳管（因该加热管易损故交货时须用户自提运输） 11、黑体腔：φ50圆锥圆柱复合腔体锥顶角α=30° 碳化硅质材料 12、外型尺寸 700×260×400（长×宽×高）
随着科学技术的发展，黑体的用途已经不局限于在温度计量方面的应用。在光学方面，已经普遍采用黑体作为标准辐射源和标准背景光源。在测量领域里，黑体已经用于测量材料的光谱发射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中，黑体已经用作为产生中子源。不同的用途对黑体的要求是不一样的。在温度计量领域，主要是利用黑体辐射和温度的对应关系，因此要求黑体的发射率越高越好。要求黑体的辐射能量按照光谱分布(也就是黑体光谱辐射能量、也称为单色能量)都能符合普朗克定律，这样我们在检定或校准辐射温度计时，以黑体的温度(或标准辐射温度计)的示值，来修正辐射温度计的偏差。因此在选择黑体时通常是选择发射率较高的腔式黑体，同时也要注意黑体腔口直径，温度均匀性和辐射温度不确定度。固定点黑体炉又极大程度地提升了辐射测温精度，在短期内实现了质的飞跃。
高温场视觉测温模型的建立是基于CCD传感器对铸坯表面温度场进行在线测量的前提。在分析辐射测温及CCD探测器基本工作原理的基础上，基于几何光学理论建立了窄带光谱辐射测温模型，为CCD辐射测温提供了理论依据。并结合连铸坯表面温度场分布特点，从温度测量范围、测量准确性以及发射率消除等因素上确定了灰度CCD进行连铸坯表面温度场测量方案。基于面阵CCD辐射测温模型，分析了测温灵敏度、温度测量范围与窄带滤光片中心波长、像方孔径角之间的关系。分析结果表明，灵敏度与像方孔径角成正相关，随窄带光谱中心波长先增大后减小；而温度测量范围与像方孔径角成负相关，随窄带光谱中心波长先减小后增大。同时考虑到波长对水雾的吸收特性以及本文选择的探测器响应波段等因素，**终选择的窄带滤光片中心波长为μm，带宽为10nm。基于几何成像的基本原理，建立了辐射测温变参数模型，在黑体炉上进行了标定试验研究，分析了曝光时间、光圈、焦距以及标定距离等参数对CCD灰度测量的影响。 把传感器塞入到黑体炉里，等稳定后按下某个键确认。中温黑体炉现场测试
黑体炉的分类？主要包括腔式黑体和面源黑体。中低温黑体炉现场测试
当测温仪工作环境中存在易燃气体时，可选用本征安全型红外测温仪，从而在一定浓度的易燃气体环境中进行安全测量和监视。
在环境条件恶劣复杂的情况下，可以选择测温头和显示器分开的系统，以便于安装和配置。可选择与现行控制设备相匹配的信号输出形式。
8、红外辐射测温仪的标定
红外测温仪必须经过标定才能使它正确地显示出被测目标的温度。一般的红外测温的校准周期是一年，建议选用腔形，发射率达到0.995的黑体炉，才能准确的校准红外测温仪。如果所用的测温仪在使用中出现测温超差，则需退回厂家或维修中心重新标定
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