产品型号DataRay 提供多种型号以满足不同需求:WinCamD-LCM 系列:适用于 355 nm 至 1150 nm 波长,具有高分辨率和高帧率。WinCamD-IR-BB:适用于 2 µm 至 16 µm 波长的远红外光束分析。BeamMap2:适用于实时 XYZΘΦ 剖面量测分析及对准,精度可达亚微米级。4. 软件功能DataRay 的软件提供***的光束分析功能,包括:光束直径测量:通过多种方法(如 ISO 11146、高斯拟合)计算光束直径。光束椭圆度和方向:自动定向并计算光束的椭圆度。质心位置:提供多种模式确定光束的质心位置。实时监控和记录:支持实时数据处理和长期稳定性分析。DataRay 的光斑分析仪凭借其高精度、多样化的测量技术和广泛的应用范围,成为激光光束质量分析的理想选择。它主要用于光学系统的优化和调整,以确保光束在传输过程中保持高质量。陕西光学组装和仪器对准光束质量分析仪设备
灵活的安装与使用端口供电:USB 3.0 供电,无需外接电源适配器。灵活的电缆:附赠 3 米长的柔性螺丝固定电缆。无窗传感器:标准无窗传感器,无边纹。9. 多种应用场景连续和脉冲激光轮廓分析:适用于多种激光器的光束质量分析。激光系统实时监控:用于激光加工、医疗激光等领域的实时监控。激光偏移测量与监控:监测光束的动态变化,记录漂移数据。M² 测量:搭配 M2DU 载物台,可测量光束质量因子 M²。10. 高性价比高性价比:WinCamD-LCM 系列光束质量分析仪具有***的波长范围和高分辨率,适用于多种应用场景。WinCamD-LCM 光束质量分析仪以其高分辨率、高帧率和***的波长覆盖范围,成为激光光束质量分析的理想选择。陕西光学组装和仪器对准光束质量分析仪设备材料表征:用于分析材料的化学成分和结构,帮助优化材料性能。
DataRay 其他类似产品DataRay 提供多种光束质量分析仪和光斑分析仪,适用于不同的波长范围和应用场景。以下是部分产品及其特点:1. WinCamD-LCM 系列特点:高分辨率 CMOS 传感器,4.2 MPixel,2048×2048 像素。有效成像面积 11.3 mm×11.3 mm,像素尺寸 5.5 µm。支持连续光和脉冲光测量,带有 TTL 触发功能。高信噪比 2500:1,动态范围 44 dB。USB 3.0 接口,即插即用。应用:适用于 355 nm 至 1150 nm 波长范围的光束质量分析。广泛应用于科研、工业、医疗和通信领域。
M²(光束质量因子)是评估激光光束质量的一个关键参数,它表示激光光束与理想高斯光束的接近程度。M² 测量在激光器研发中具有极其重要的意义,以下是具体说明:1. 评估光束质量定义:M² 是光束质量因子,用于量化实际激光光束与理想高斯光束的接近程度。M² = 1 表示光束为理想的高斯光束,M² 值越高,表示光束质量越差。意义:通过 M² 测量,可以精确评估激光器输出光束的质量,帮助研发人员了解激光器的性能。2. 优化激光器设计设计改进:M² 测量结果可以指导激光器的设计和优化。例如,通过调整激光器的腔体结构、光学元件的配置和材料选择,可以***改善光束质量。案例:在某项研究中,通过优化激光器的腔体设计,M² 值从 1.2 降低到 1.05,显著提高了光束质量。3. 提高加工和应用效率激光加工:在激光切割、焊接和打标等应用中,高质量的光束可以显著提高加工效率和质量。M² 值越低,光束的聚焦能力越强,加工精度越高。医疗应用:在激光眼科手术和外科手术中,高质量的光束可以确保手术的精确性和安全性,减少对周围组织的损伤。BladeCam2-XHR-UV是一款高分辨率、紧凑型光束质量分析仪,特别适用于激光切割中的光束质量分析。
光束特性光束半径或直径范围:确定要测量的光束半径或直径范围,以及所需的测量精度。光束形状:考虑光束是否接近高斯分布,或者具有复杂的形状,如二极管条的输出。光功率范围:确定光功率范围,是否需要大动态范围的设备,或者是否可以在狭窄的光功率范围内工作。3. 测量精度传感器类型:选择合适的传感器类型,如 CCD 或 CMOS。虽然 CCD 在影像品质上可能优于 CMOS,但 CMOS 具有低成本、低功耗和高整合度的特点。像素大小:像素大小影响可测量的**小光束尺寸。一般要求**小测试光斑直径大于等于10个像素点大小。动态范围和信噪比:高动态范围和高信噪比的传感器可以提供更准确的测量结果。DataRay提供多种光斑分析仪,适用于不同波长,能够测量激光光束的光斑大小、形状和能量分布等参数。光学组装和仪器对准光束质量分析仪装置
WinCamD-IR-BB是一款专为中波红外和远红外波段激光设计的光束质量分析仪,覆盖波长范围从2µm到16µm。陕西光学组装和仪器对准光束质量分析仪设备
光束分析仪测量 M² 的方法光束质量因子 M² 是评估激光光束质量的重要参数,表示实际激光光束与理想高斯光束的接近程度。以下是光束分析仪测量 M² 的主要方法和步骤:1. 标准多次成像法根据国际标准化组织(ISO 11146)标准,多次成像法是测量 M² 的常用方法。具体步骤如下:光束采样:在光束传播路径上,使用光束分析仪在多个不同位置(通常至少10个)采集光束的横截面图像。这些位置应包括光束腰两侧的一个瑞利长度内(|z|<zR)和两个瑞利长度之外(|z|>2zR)。数据拟合:通过分析采集到的光束宽度数据,利用双曲线拟合方法计算 M² 值。2. 单次成像法单次成像法通过一次成像获取光束传播的关键参数,并基于光场传输理论推导出 M² 值。这种方法的**在于:近场光斑测量:使用光束分析仪采集单幅激光近场光斑。模式分解与光场重构:通过模式分解技术得到激光的各本征模式占比及相对相位,进而重构光场分布并计算得到 M² 值。陕西光学组装和仪器对准光束质量分析仪设备