北京激光光束质量分析仪厂商

DataRay WinCamD-LCM 光束质量分析仪因其广的波长范围、高分辨率和高帧率，适用于多个行业和应用场景。以下是其主要适用行业及具体应用：1. 科研领域激光系统研发：用于评估激光器性能，优化激光系统，故障诊断与维护。例如，在高对比度激光系统的研究中，WinCamD-LCM 被用于测量光束质量和稳定性。光学实验：在光学实验中用于光束对准和校准，确保实验精度。2. 工业领域激光加工：在激光切割、焊接、打标等工业应用中，实时监测光束质量，优化加工参数。激光器制造：用于激光器生产线的质量控制，确保激光器的光束质量符合标准。3. 医疗领域激光手术设备：在激光眼科手术中，帮助医生精确控制激光光束的焦点位置和能量分布，确保手术的安全性和有效性。医疗设备维护：用于医疗激光设备的维护和校准，确保设备性能符合法规要求。测量1550 nm和2000 nm通信波段的光束质量。北京激光光束质量分析仪厂商

美国 DataRay Inc. 成立于 1988 年，总部位于加州 Monterey，是 ISO-11146 激光光束分析领域的**。公司专注于为科研、工业和医疗客户提供“相机式”和“狭缝扫描式”两大类光束质量分析仪，波长覆盖 190 nm – 16 µm（深 UV 至远红外），可测光束直径小到 0.5 µm、大到 200 mm，产品全部在美国本土制造。相机式光束分析仪•WinCamD-LCM：4.2MPixel，2048×2048，11.3mm×11.3mm，USB3.0，355-1150nm标准，1480-1610nmTEL版本可选。•BladeCam-HR：超紧凑46×46×11.5mm，1280×1024，USB供电，适合空间受限场景。•TaperCamD-LCM：25×25mm大靶面，4.2MPixel，60fps@512×512，高功率/大光束**。•WinCamD-IR-BB：VOx微测辐射热计，2-16µm，640×480，30fps，MWIR/FIR波束成像。•WinCamD-QD：量子点传感器，350-2000nm，15µm像素，全局快门，SWIR/eSWIR应用。广东光束漂移记录光束质量分析仪品牌在激光设备的生产过程中进行质量控制，以及设备的现场维修和维护。

WinCamD-QD特点：适用于 400 nm 至 1700 nm 波长范围的光束质量分析。量子点探测器，15 µm 像素尺寸，**小可检测光束直径为 0.15 mm。应用：适用于通信波段（如 1550 nm）的激光检测。广泛应用于科研、工业和医疗领域。5. BladeCam-HR特点：高分辨率 CMOS 传感器，1.3 MPixel，1280×1024 像素。适用于小尺寸光束的高精度测量。应用：适用于紧凑的光学系统和 OEM 应用。用于激光器研发和光束质量优化。LLPS 线形激光光束轮廓仪特点：适用于长达 200 mm 的线激光测量。使用 DataRay 的旗舰 WinCamD-LCM4 光束轮廓分析相机进行扫描。应用：用于线激光强度分布的完整图像以及垂直质心图、线宽图的测量。DataRay 提供的这些产品涵盖了从紫外到远红外的***波长范围，适用于多种应用场景

数据记录与分析数据记录：实时监测功能可以记录光束质量的实时数据，便于后续分析和统计。这些数据可以用于评估激光系统的性能，优化操作参数，提高生产效率。统计分析：通过记录最小值、最大值、平均值和标准偏差等统计参数，用户可以***了解光束质量的变化趋势，为系统优化提供科学依据。总结光束质量分析仪的实时监测功能在激光加工、医疗、科研和通信等多个领域具有极其重要的意义。它不仅能够提供即时的光束质量反馈，帮助用户快速调整和优化激光系统，还能显著提高生产效率、确保医疗安全、优化科研实验，并支持长期稳定性分析。因此，选择具备实时监测功能的光束质量分析仪是非常重要的。测量激光光束的发散角、M²值、光束对称性和强度分布。

典型应用•CO₂激光器（10.6µm）现场维护与功率密度验证•量子级联激光器（QCL）光束轮廓、M²测试•中红外OPO/OPA系统对准与长期漂移记录•硅基/硫系波导MIR光子芯片出光质量分析•医疗Er:YAG（2.94µm）、Ho:YAG（2.1µm）外科激光焦点监控配置与附件•标配ND-IRGe滤光片（ND1、ND2）•可加保偏光采样器、C-mount透镜组、M²DU自动导轨•30天试用，3年质保，全球分销支持如需更高功率或更大光斑，可叠加LBPS（200mm光束仿形系统）或LLPS（线激光轮廓仪）。光束质量分析仪测量激光束传播时的扩散程度，用于评估光束的准直度。北京狭缝式光束质量分析仪官方网站

光束质量分析仪以其高精度、多功能、快速响应和广泛应用等优势，成为现代科技和工业生产中的重要工具。北京激光光束质量分析仪厂商

光束分析仪测量 M² 的方法光束质量因子 M² 是评估激光光束质量的重要参数，表示实际激光光束与理想高斯光束的接近程度。以下是光束分析仪测量 M² 的主要方法和步骤：1. 标准多次成像法根据国际标准化组织（ISO 11146）标准，多次成像法是测量 M² 的常用方法。具体步骤如下：光束采样：在光束传播路径上，使用光束分析仪在多个不同位置（通常至少10个）采集光束的横截面图像。这些位置应包括光束腰两侧的一个瑞利长度内（|z|<zR）和两个瑞利长度之外（|z|>2zR）。数据拟合：通过分析采集到的光束宽度数据，利用双曲线拟合方法计算 M² 值。2. 单次成像法单次成像法通过一次成像获取光束传播的关键参数，并基于光场传输理论推导出 M² 值。这种方法的**在于：近场光斑测量：使用光束分析仪采集单幅激光近场光斑。模式分解与光场重构：通过模式分解技术得到激光的各本征模式占比及相对相位，进而重构光场分布并计算得到 M² 值。北京激光光束质量分析仪厂商