M2测量光束质量分析仪测量系统

软件功能实时监控与记录：支持实时数据处理和长期稳定性分析。光束参数测量：能够测量光束直径、椭圆度、质心位置、光束漂移等参数。数据记录与统计：支持最小值、最大值、平均值、标准偏差等统计功能。M² 测量：对于完整的光束质量表征，设备是否应自动记录不同位置的光束轮廓并计算 M² 因子。5. 其他考虑因素连接方式：考虑设备连接到 PC 的便利性，例如通过 USB 2.0 或 USB 3.0 电缆。快门类型：全局快门适用于高速生产线检测的使用场景。设备尺寸与便携性：根据使用场景选择合适尺寸的设备，例如 BladeCam-HR 的紧凑设计使其能够轻松集成到现有的光学系统中。通过监测光束的发散角和光斑大小，可以及时调整激光参数。M2测量光束质量分析仪测量系统

DataRay WinCamD-LCM 光束质量分析仪因其广的波长范围、高分辨率和高帧率，适用于多个行业和应用场景。以下是其主要适用行业及具体应用：1. 科研领域激光系统研发：用于评估激光器性能，优化激光系统，故障诊断与维护。例如，在高对比度激光系统的研究中，WinCamD-LCM 被用于测量光束质量和稳定性。光学实验：在光学实验中用于光束对准和校准，确保实验精度。2. 工业领域激光加工：在激光切割、焊接、打标等工业应用中，实时监测光束质量，优化加工参数。激光器制造：用于激光器生产线的质量控制，确保激光器的光束质量符合标准。3. 医疗领域激光手术设备：在激光眼科手术中，帮助医生精确控制激光光束的焦点位置和能量分布，确保手术的安全性和有效性。医疗设备维护：用于医疗激光设备的维护和校准，确保设备性能符合法规要求。重庆通信波段光束质量分析仪报价WinCamD 能够清晰捕捉从强到弱的光强分布，适用于散射光分析等复杂光束的测量。

多种波长支持BladeCam2-XHR-UV 支持 190 nm 至 1150 nm 的波长范围，适用于多种激光器，包括紫外和近红外波段的激光器。5. 软件功能强大数据记录与统计：支持最小值、最大值、平均值和标准偏差等统计功能，帮助用户***了解光束质量的变化趋势。通过/失败显示：提供屏幕上可选择的通过/失败颜色，适用于 QA 和生产环境。6. 光束漂移记录BladeCam2-XHR-UV 能够记录光束的长期漂移数据，帮助用户分析光束的稳定性和一致性，这对于激光切割中的长期运行监测尤为重要。7. M² 测量BladeCam2-XHR-UV 搭配导轨后可以测量光束质量因子 M²，评估光束的传播特性，这对于激光器的研发和质量控制非常关键。

WinCamD-IR-BB特点：适用于 2 µm 至 16 µm 波长范围的中远红外光束分析。640×480 分辨率，17 µm 像素尺寸，有效成像面积 10.9 mm×8.2 mm。高信噪比，超过 1000:1，确保测量的精确性和可靠性。应用：适用于 CO₂ 激光器（10.6 µm）、量子级联激光器（QCL）等中远红外激光。用于激光器研发、现场服务与维护、光学组件校准等。TaperCamD-LCM特点：大靶面尺寸 25 mm×25 mm，适用于大尺寸光束测量。4.2 MPixel，2048×2048 像素，12.5 µm 像素尺寸。高信噪比 2500:1，动态范围 44 dB。应用：适用于大功率连续波或脉冲激光的光束质量分析。用于激光加工、激光器制造和光学系统对准。BladeCam-XHR支持多个光束的并行处理，可以减少多光束检测过程所需的总时间。

DataRay WinCamD-IR-BB 中远红外光束质量分析仪产品概述WinCamD-IR-BB 是一款专为中波红外（MWIR）和远红外（FIR）波段激光设计的光束质量分析仪，覆盖波长范围从 2 µm 到 16 µm。该设备基于微测辐射热计（microbolometer）技术，具有高灵敏度和自动非均匀性校正功能，能够进行 ISO 11146 标准的光束测量。主要特点宽波长覆盖：2 µm 至 16 µm，适用于多种中远红外激光。高分辨率成像：640×480 分辨率，17 µm 像素尺寸，有效成像面积为 10.8 mm×8.2 mm。高信噪比：信噪比超过 1000:1，确保测量的精确性和可靠性。集成快门：支持 HyperCal™ 动态噪声和基线校正，提高测量精度。低辐照度能力：在 5 倍峰峰值噪声下可测约 75 µW/cm²。帧率：30 帧/秒（出口版本为 7.5 帧/秒）。USB 3.0 接口：即插即用，无需外接电源适配器。无需斩波器或热电冷却器：简化了操作流程，降低了维护成本。支持脉冲激光：可测量重复频率 ≥ 1 kHz 的脉冲激光。多相机并行采集：支持多台相机同时使用，提高测量效率。WinCamD-IR-BB可用于实时监测激光加工过程中的光束质量。甘肃相机型光束质量分析仪哪家好

通过WinCamD-LCM对光束的精确测量和分析，可以确保光学组件的正确对准。M2测量光束质量分析仪测量系统

光束分析仪测量 M² 的方法光束质量因子 M² 是评估激光光束质量的重要参数，表示实际激光光束与理想高斯光束的接近程度。以下是光束分析仪测量 M² 的主要方法和步骤：1. 标准多次成像法根据国际标准化组织（ISO 11146）标准，多次成像法是测量 M² 的常用方法。具体步骤如下：光束采样：在光束传播路径上，使用光束分析仪在多个不同位置（通常至少10个）采集光束的横截面图像。这些位置应包括光束腰两侧的一个瑞利长度内（|z|<zR）和两个瑞利长度之外（|z|>2zR）。数据拟合：通过分析采集到的光束宽度数据，利用双曲线拟合方法计算 M² 值。2. 单次成像法单次成像法通过一次成像获取光束传播的关键参数，并基于光场传输理论推导出 M² 值。这种方法的**在于：近场光斑测量：使用光束分析仪采集单幅激光近场光斑。模式分解与光场重构：通过模式分解技术得到激光的各本征模式占比及相对相位，进而重构光场分布并计算得到 M² 值。M2测量光束质量分析仪测量系统