光学组件与仪器校准光学元件的校准与测试:在光学实验室和光学制造企业中,WinCamD-IR-BB可用于对各种光学元件进行校准和测试。例如,对透镜、反射镜等光学元件的光学性能进行评估,通过测量经过光学元件后的光束质量,如光束的对称性、光斑大小、光强分布等,来判断光学元件的质量和性能是否符合要求,为光学元件的生产和质量控制提供重要的参考依据。光学仪器的校准与标定:对于一些需要精确测量光束参数的光学仪器,如光束质量分析仪、光束准直仪等,WinCamD-IR-BB可以作为标准工具,对其测量结果进行校准和标定。通过对比WinCamD-IR-BB的测量结果与仪器自身的测量结果,发现并修正仪器的误差,确保光学仪器的测量精度和可靠性。通过WinCamD-LCM对光束的精确测量和分析,可以确保光学组件的正确对准。中红外光束质量分析仪测量系统
法国 FemtoEasy 光束质量分析仪1. 高性能与多功能性FemtoEasy 的 BeamPro 系列光束质量分析仪以其高性能和多功能性,成为科研、工业和教育领域的理想选择。这些光束分析仪采用先进的光学技术和高灵敏度探测器,能够提供从紫外到近红外的宽波长范围测量。其高分辨率和低杂散光设计,确保了测量数据的准确性和可靠性。便携设计与实时监测FemtoEasy 的光束质量分析仪以其便携设计和实时监测功能,成为现场检测和实验室研究的得力助手。这些设备体积小巧,重量轻,便于携带和操作。其内置的实时监测功能,能够快速响应并记录光束变化,适用于动态环境中的实时分析。浙江光束质量分析仪检测设备DataRayWinCamD光束分析仪对经过粗糙铝表面散射后的激光光束进行空间分布分析,包括散射光束形貌表征。
DataRay 的 WinCamD-LCM 系列光束质量分析仪,以其***的性能和***的波长覆盖范围,成为科研和工业领域的理想选择。该系列采用 1 英寸 CMOS 传感器,提供 4.2 MPixel 的高分辨率和 5.5 µm 的像素尺寸,能够精确捕捉光束的每一个细节。其高达 60 fps 的帧率和全局快门设计,确保了连续光和脉冲光测量的准确性。USB 3.0 接口即插即用,无需外接电源适配器,操作简便。DataRay 的**全功能软件支持 ISO 11146 标准,提供 M²、D4σ、Knife-Edge 等参数测量,帮助用户***评估光束质量。无论是激光器研发、激光加工还是医疗激光设备,WinCamD-LCM 都能提供可靠的解决方案。
以下是Dataray的WinCamD-LCM光束质量分析仪的一些应用案例:科研领域量子存储辅助的超声波光学检测:新西兰奥塔哥大学研究团队开发了一种基于原子频率梳(AFC)量子存储技术的超声波光学检测方法,用于生物医学成像等领域。在该项目中,使用DataRay WinCamD光束分析仪对经过粗糙铝表面散射后的激光光束进行空间分布分析,包括散射光束形貌表征、模式质量评估以及系统兼容性验证,为后续的量子存储与回声检测提供了光学依据。工业生产激光器和激光系统的现场调试与故障诊断它可以测量光斑32um,进行激光M²值测量、激光发散角测量、激光漂移测量以及监控。
便携设计与实时监测WinCamD-IR-BB 以其紧凑的设计和便携性,成为现场服务与维护的理想选择。该设备尺寸*为 73 mm × 73 mm × 52 mm,重量* 422 克,便于携带和集成到现有系统中。其 USB 3.0 接口支持即插即用,无需外部电源适配器。WinCamD-IR-BB 支持实时数据处理,能够快速响应并记录光束的变化,适用于动态环境中的实时分析。广泛的应用领域WinCamD-IR-BB 广泛应用于多个领域,包括 MIR/FIR 激光轮廓分析、现场服务与维护、光学组件校准以及光束漂移记录。其高分辨率和精确的光束参数测量能力,使其成为激光器研发、激光加工和医疗激光设备中的重要工具。此外,WinCamD-IR-BB 还支持 M² 测量、发散角测量和焦点位置确定,为用户提供***的光束质量分析解决方案。WinCamD-LCM可用于连续波和脉冲激光轮廓的分析。河北自动光束质量分析仪价格表
通过监测光束的发散角和光斑大小,可以及时调整激光参数。中红外光束质量分析仪测量系统
DataRay 中红外产品 高性能中红外光束质量分析仪DataRay 的 WinCamD-IR-BB 是一款专为中红外(MWIR)和远红外(FIR)波段设计的光束质量分析仪,波长范围覆盖 2 µm 至 16 µm。该设备采用 17 µm 像素间距的氧化钒微测辐射热计,具有超过 1000:1 的信噪比,确保了高灵敏度和精确的光束测量。其有效成像面积为 10.8 mm × 8.16 mm,能够进行符合 ISO 11146 标准的光束测量。此外,WinCamD-IR-BB 配备集成快门,支持脉冲激光测量(PRR≥1kHz)或连续波光测量。中红外光束质量分析仪测量系统