虹口区探针测试加热盘定制

面向半导体热压键合工艺，国瑞热控**加热盘以温度与压力协同控制提升键合质量。采用陶瓷加热芯与铜合金散热基体复合结构，加热面平面度误差小于 0.005mm，确保键合区域压力均匀传递。温度调节范围室温至 400℃，升温速率达 40℃/ 秒，可快速达到键合温度并保持稳定（温度波动 ±0.5℃），适配金 - 金、铜 - 铜等不同金属键合工艺。配备压力传感器与位移监测模块，实时反馈键合过程中的压力变化与芯片位移，通过闭环控制实现压力（0.1-10MPa）与温度的精细匹配。与 ASM 太平洋键合设备适配，使键合界面电阻降低至 5mΩ 以下，为高可靠性芯片互联提供保障。多重安全保护机制，过温过载自动防护，让您使用更安心放心。虹口区探针测试加热盘定制

针对等离子体刻蚀环境的特殊性，国瑞热控配套加热盘采用蓝宝石覆层与氮化铝基底的复合结构，表面硬度达莫氏 9 级，可耐受等离子体长期轰击而无材料脱落。加热盘内部嵌入钼制加热丝，经后嵌工艺固定，避免高温下电极氧化影响加热性能，工作温度范围覆盖室温至 500℃，控温精度 ±1℃。底部设计环形冷却通道，与加热元件形成热平衡调节系统，快速响应刻蚀过程中的温度波动。设备采用全密封结构，电气强度达 2000V/1min，在氟基、氯基刻蚀气体环境中绝缘性能稳定，适配中微半导体刻蚀机等主流设备，为图形转移工艺提供可靠温控。普陀区加热盘厂家表面喷涂特殊涂层，防腐防氧化，延长设备使用寿命。

国瑞热控依托 10 余年半导体加热盘研发经验，提供全流程定制化研发服务，满足客户特殊工艺需求。服务流程涵盖需求分析、方案设计、原型制作、性能测试、批量生产五大环节，可根据客户提供的工艺参数（温度范围、控温精度、尺寸规格、环境要求等），定制特殊材质（如高纯石墨、氮化硅陶瓷）、特殊结构（如多腔体集成、异形加热面）的加热盘。配备专业研发团队（含材料学、热力学、机械设计工程师），采用 ANSYS 温度场仿真软件优化设计方案，原型样品交付周期**短 10 个工作日，且提供 3 次**方案迭代。已为国内多家半导体设备厂商定制**加热盘，如为某企业开发的真空腔体集成加热盘，实现加热与匀气功能一体化，满足其特殊制程的空间限制需求。

国瑞热控半导体测试用加热盘，专为芯片性能测试环节的温度环境模拟设计，可精细复现芯片工作时的温度条件。设备温度调节范围覆盖 - 40℃至 150℃，支持快速升温和降温，速率分别达 25℃/ 分钟和 20℃/ 分钟，能模拟不同工况下的温度变化。加热盘表面采用柔性导热垫层，适配不同厚度的测试芯片，确保热量均匀传递至芯片表面，温度控制精度达 ±0.5℃。配备可编程温度控制系统，可预设多段温度曲线，满足长时间稳定性测试需求。设备运行时无电磁场干扰，避免对测试数据产生影响，同时具备过温、过流双重保护功能，为半导体芯片的性能验证与质量检测提供专业温度环境。模块化设计理念，维护更换简单快捷，大幅降低运维成本。

国瑞热控刻蚀工艺加热盘，专为半导体刻蚀环节的精细温控设计，有效解决刻蚀速率不均与图形失真问题。产品采用蓝宝石覆层与铝合金基体复合结构，表面经抛光处理至镜面效果，减少刻蚀副产物粘附，且耐受等离子体轰击无损伤。加热盘与静电卡盘协同适配，通过底部导热纹路优化，使热量快速传导至晶圆背面，温度响应时间缩短至 10 秒以内。支持温度阶梯式调节功能，可根据刻蚀深度需求设定多段温度曲线，适配硅刻蚀、金属刻蚀等不同工艺场景。设备整体符合半导体洁净车间 Class 1 标准，拆卸维护无需特殊工具，大幅降低生产线停机时间。工业级耐用加热盘，耐腐蚀抗冲击，适应严苛工况，保障生产连续性。广东晶圆级陶瓷加热盘

精选耐高温材料，绝缘性能优异，确保使用安全万无一失。虹口区探针测试加热盘定制

电控晶圆加热盘：半导体工艺的准确温控重点。无锡国瑞热控的电控晶圆加热盘，以创新结构设计解释半导体制造的温控难题。其底盘内置螺旋状发热电缆与均温膜，通过热量传导路径优化，使加热面均温性达到行业高标准，确保晶圆表面温度分布均匀，为光刻胶涂布等关键工艺提供稳定环境。搭配高精度温度传感器与限温开关，温度波动可控制在极小范围，适配 6 英寸至 12 英寸不同规格晶圆需求。设备采用卡接组件连接上盘与底盘，通过转盘驱动齿轮结构实现快速拆装，大幅降低检修维护的停机时间，完美契合半导体量产线的高效运维需求。虹口区探针测试加热盘定制

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