闵行区探针测试加热盘

国瑞热控封装测试**加热盘聚焦半导体后道工艺需求，采用轻量化铝合金材质，通过精密加工确保加热面平整度误差小于0.05mm，适配不同尺寸封装器件的测试需求！加热元件采用片状分布设计，热响应速度快，可在5分钟内将测试温度稳定在-40℃至150℃之间，满足高低温循环测试、老化测试等场景要求！表面采用防粘涂层处理，减少测试过程中污染物附着，且易于清洁维护！配备可编程温控系统，支持自定义测试温度曲线，可存储100组以上测试参数，方便不同型号器件的测试切换！与长电科技、通富微电等封装测试企业合作，适配其自动化测试生产线，为半导体器件可靠性验证提供精细温度环境，助力提升产品良率！表面特殊处理，耐腐蚀易清洁，适用化学食品领域。闵行区探针测试加热盘

面向半导体实验室研发场景，国瑞热控小型加热盘以高精度与灵活性成为科研得力助手！产品尺寸可定制至10cm×10cm，适配小规格晶圆与实验样本的加热需求，温度调节范围覆盖室温至500℃，**小调节精度达1℃！采用陶瓷加热元件与铂电阻传感器组合，控温稳定性达±0.5℃，满足材料研发中对温度参数的精细控制！设备支持USB数据导出功能，可实时记录温度变化曲线，便于实验数据追溯与分析！整体采用便携式设计，重量*1.5kg，且具备过热保护功能，当温度超过设定阈值时自动断电，为半导体新材料研发、工艺参数优化等实验工作提供可靠温控工具！金山区半导体加热盘厂家大小功率齐全覆盖广，灵活匹配实验装置与工业设备需求。

针对晶圆清洗后的烘干环节，国瑞热控**加热盘以洁净高效的特性适配严苛需求！产品采用高纯不锈钢基材，表面经电解抛光与钝化处理，粗糙度Ra小于0.2μm，减少水分子附着与杂质残留！加热面采用蜂窝状导热结构，使热量均匀分布，晶圆表面温度差控制在±2℃以内，避免因局部过热导致的晶圆翘曲！温度调节范围覆盖50℃至150℃，支持阶梯式升温程序，适配不同清洗液的烘干需求！设备整体采用无死角结构设计，清洁时*需用高纯酒精擦拭即可，符合半导体制造的高洁净标准，为清洗后晶圆的干燥质量与后续工艺衔接提供保障！

针对车载半导体高可靠性需求，国瑞热控测试加热盘适配AEC-Q100标准！采用**级铝合金基材，通过-55℃至150℃高低温循环测试5000次无变形，加热面平整度误差小于0.03mm！温度调节范围覆盖-40℃至200℃，升降温速率达30℃/分钟，可模拟车载芯片在极端环境下的工作状态！配备100组可编程温度曲线，支持持续1000小时老化测试，与比亚迪半导体、英飞凌等企业适配，通过温度冲击、湿热循环等可靠性验证，为新能源汽车电控系统提供质量保障！坚固耐用设计理念，抗冲击耐磨损，确保设备长久稳定运行。

针对碳化硅衬底生长的高温需求，国瑞热控**加热盘采用多加热器分区布局技术，**温度梯度可控性差的行业难题！加热盘主体选用耐高温石墨基材，表面喷涂碳化硅涂层，在2200℃高温下仍保持结构稳定，热导率达180W/mK，适配PVT法、TSSG法等主流生长工艺！内部划分12个**温控区域，每个区域控温精度达±2℃，通过精细调节温度梯度控制晶体生长速率，助力8英寸碳化硅衬底量产！设备配备石墨隔热屏与真空密封结构，在10⁻⁴Pa真空环境下无杂质释放，与晶升股份等设备厂商联合调试适配，使衬底生产成本较进口方案降低30%以上，为新能源汽车、5G通信等领域提供**材料支撑！专业热仿真分析，优化热场分布设计，确保加热效果均匀。嘉定区涂胶显影加热盘供应商

多重安全保护设计，漏电过载超温防护，构建安全工作环境。闵行区探针测试加热盘

面向先进封装Chiplet技术需求，国瑞热控**加热盘以高精度温控支撑芯片互联工艺！采用铝合金与陶瓷复合基材，加热面平面度误差小于0.02mm，确保多芯片堆叠时受热均匀！内部采用微米级加热丝布线，实现1mm×1mm精细温控分区，温度调节范围覆盖室温至300℃，控温精度±0.3℃，适配混合键合、倒装焊等工艺环节！配备压力与温度协同控制系统，在键合过程中同步调节温度与压力参数，减少界面缺陷！与长电科技、通富微电等企业适配，支持2.5D/3D封装架构，为AI服务器等高算力场景提供高密度集成解决方案！闵行区探针测试加热盘

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