3.测试仪器的调整
使用仪器时，测量仪器的水平线性度和垂直线性度。时间基线标度可按比例调整以表示脉冲回波的水平距离、深度或声程。
4.扫描
扫描时一般考虑两个原则：一是保证试件的整个检测区域被足够的声束覆盖，避免漏检；二是扫描时声束入射方向始终符合规定要求。通用标准规定扫描速度不应大于150mm/s，在扫描过程中，应给探头适当且一致的压力，以保持探头的平稳移动。在扫描过程中，探头的方向应严格按照扫描方式的规定进行（应特别注意斜束探头）。
对于单探头探伤，由于探头移动方向的改变，缺陷检测的灵敏度会随着入射波方向的变化而变化；对于双探头法，另一个探头无法接收到反射或透射波。因此，为了避免漏检，每次扫描都应提供一定比例的波束覆盖。 还有就是白磁粉，在氧化铁粉末颗粒中涂有白色物质的白色磁粉，适用于背景较暗的工件。金华U-ST探伤剂厂家报价
4.蠕动波探头。因为蠕变波的角度在75°～83°之间，几乎垂直于被检工件的厚度方向，与工件的垂直裂纹接近90°。因此，它对垂直裂纹具有良好的检测灵敏度，对工件的表面粗糙度要求不高，适合于表面和近表面裂纹的检测。
5.表面波（瑞利波）探头的入射角应接近瑞利波产生的临界角，通常略大于第2临界角。由于表面波的能量集中在表面以下两个波长，因此表面裂纹检测的灵敏度很高，主要用于表面或近表面缺陷的检测。
6.双晶探头。双晶探头有两个压电晶片，一个发射超声波，另一个接收超声波。根据入射角αL的不同，可分为纵波双晶直探头和横波双晶角探头。本发明具有灵敏度高、杂波少、盲区小、工件近场区长度小、探测范围可调等优点。 金华U-ST探伤剂厂家报价涡流探伤*适用于导电材料，只能检测表面或近表面层的缺陷，不便使用于形状复杂的构件。
三、检测步骤
1.预清洗
必须清洁试件表面的污垢。清洗后，残留在试验表面上的溶剂和水分必须干燥，并保证在施涂渗透剂前不受污染，不允许倒喷。
2.渗透剂的应用
（1） 渗透剂（通常为红色槽）喷涂槽直接喷在被检工件的检验部位，以保证被检部位被渗透剂完全覆盖，并在贯穿过程中始终保持湿润状态。
（2） 在10-15℃的温度下，渗透时间不应少于10分钟。
3.清洁多余的渗透剂
渗透剂喷完10分钟后，用清洗剂（一般为黄色槽）喷槽直接喷在工件受检部位，去除工件表面多余的渗透剂。不得近距离高压冲洗，不得向后喷射。
4.干燥处理
在使用显像剂之前，测试表面自然干燥，干燥时间通常为5-10分钟。
5.显像剂的应用
使用前，显影剂应充分搅拌，上下左右摇晃。摇动后，喷嘴与被测表面的距离为300mm~400mm，喷射方向与被检表面的夹角为30°~40°。显像剂的涂刷应薄而均匀，不得在同一处重复涂刷。不要向后喷射。
6.观察
应用显像剂后7～60分钟内观察。
4.角度
在检测中，超声波束的轴线应尽量与缺陷垂直。因此，角度的选择应根据试件中缺陷的类型和位置以及工件允许的探伤条件来选择。根据反射和折射定律以及相关的几何知识，选择合适角度的探头。以探头的K值为例，折射角对探测灵敏度、波束轴线方向、主波声程（入射点到底反射点的距离）有很大影响。当β=40°（k=0.84）时，声压的往复传播率较高，即检测灵敏度较高。
可以看出，K值越大，β值越大，主波的声程越大。因此，当工件厚度较小时，应选择较大的K值，以增大一次波的声程，避免近场检测。
磁粉探伤也可用于棒材、坯料、锻件、铸件等半成品和原材料的检验，以发现存在的表面缺陷。
在荧光探伤用LED灯的选择中，峰值波长是重要的因素。在以前的荧光渗透剂和荧光磁粉配方的研究和开发中，汞蒸气一直被用作紫外线光源。汞蒸气光源在365.4nm处产生单一的UV-a峰，即汞的发射线。因此，在所有荧光渗透剂和荧光磁粉的研发和制造中，染料的选择要求它们能在365nm的紫外辐射下发出荧光。发光二极管（LED）发射的紫外线的峰值波长是可变的，这取决于内部半导体的掺杂。为了保证led UV-A灯能使荧光渗透剂和荧光磁粉产生荧光，led的峰值波长必须在360-370nm范围内。 工件的几何形状对磁粉探伤影响较大，而对渗透探伤影响不大。福建U-T探伤剂厂家报价
磁粉探伤是利用漏磁场与磁粉在工件缺陷处的相互作用，磁化后产生磁痕，在适当的光照条件下，可以揭示缺陷。金华U-ST探伤剂厂家报价
水基产品无闪点，不燃烧，生产、运输、储存、使用环节无着火的隐患，可以按照非危险品处理，节约成本。
水基产品无不良气味，无毒无害，检测环境更舒适。水基型荧光渗透液还存在哪些不足
水基产品挥发相对比油基产品要快一些。
水基产品容易起泡，避免激烈的搅拌。
不建议采用水基显像剂对水基渗透剂进行显像，除非使用方通过实验认可，确认可以采用水基显像剂。
综上所述，水基产品在环保、经济、安全等方面与油基产品相比具有明显的竞争优势，灵敏度等关键指标也能满足渗透检测的要求。改用水基型荧光渗透液是明智的选择。 金华U-ST探伤剂厂家报价
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