科研团队探索晶圆键合技术在柔性半导体器件制备中的应用，针对柔性衬底与半导体晶圆的键合需求，开发了适应性的工艺方案。考虑到柔性材料的力学特性，团队采用较低的键合压力与温度，减少衬底的变形与损伤，同时通过优化表面处理工艺，确保键合界面的足够强度。在实验中，键合后的柔性器件展现出一定的弯曲耐受性，电学性能在多次弯曲后仍能保持相对稳定。这项研究拓展了晶圆键合技术的应用场景，为柔性电子领域的发展提供了新的技术支持，也体现了研究所对新兴技术方向的积极探索。晶圆键合确保微型核电池高辐射剂量下的安全密封。辽宁低温晶圆键合实验室
在晶圆键合技术的设备适配性研究中，科研团队分析现有中试设备对不同键合工艺的兼容能力，提出设备改造的合理化建议。针对部分设备在温度均匀性、压力控制精度上的不足，团队与设备研发部门合作，开发了相应的辅助装置，提升了设备对先进键合工艺的支持能力。例如，为某型号键合机加装的温度补偿模块，使晶圆表面的温度偏差控制在更小范围内，提升了键合的均匀性。这些工作不仅改善了现有设备的性能，也为未来键合设备的选型与定制提供了参考，体现了研究所对科研条件建设的重视。晶圆键合晶圆键合实现固态相变制冷器的多级热电结构高效集成。
围绕晶圆键合技术的标准化建设，该研究所联合行业内行家开展相关研究。作为中国有色金属学会宽禁带半导体专业委员会倚靠单位，其团队参与了多项行业标准的研讨，针对晶圆键合的术语定义、测试方法等提出建议。在自身研究实践中，团队总结了不同材料组合、不同尺寸晶圆的键合工艺参数范围，形成了一套内部技术规范，为科研人员提供参考。同时，通过与其他科研机构的合作交流，分享键合过程中的质量控制经验，推动行业内工艺水平的协同提升。这些工作有助于规范晶圆键合技术的应用，促进其在半导体产业中的有序发展。
针对晶圆键合过程中的气泡缺陷问题，科研团队开展了系统研究，分析气泡产生的原因与分布规律。通过高速摄像技术观察键合过程中气泡的形成与演变，发现气泡的产生与表面粗糙度、压力分布、气体残留等因素相关。基于这些发现，团队优化了键合前的表面处理工艺与键合过程中的压力施加方式，在实验中有效减少了气泡的数量与尺寸。在 6 英寸晶圆的键合中，气泡率较之前降低了一定比例，明显提升了键合质量的稳定性。这项研究解决了晶圆键合中的一个常见工艺难题，为提升技术成熟度做出了贡献。晶圆键合推动磁存储器实现高密度低功耗集成。
研究所利用人才团队的优势，在晶圆键合技术的基础理论研究上投入力量，探索键合界面的形成机制。通过分子动力学模拟与实验观察相结合的方式，分析原子间作用力在键合过程中的变化规律，建立界面结合强度与工艺参数之间的关联模型。这些基础研究成果有助于更深入地理解键合过程，为工艺优化提供理论指导。在针对氮化物半导体的键合研究中，理论模型预测的温度范围与实验结果基本吻合，验证了理论研究的实际意义。这种基础研究与应用研究相结合的模式，推动了晶圆键合技术的持续进步。晶圆键合实现声学超材料宽频可调谐结构制造。中山直接晶圆键合服务
晶圆键合为深空探测提供宇宙尘埃原位捕集与分析一体化芯片。辽宁低温晶圆键合实验室
广东省科学院半导体研究所依托其材料外延与微纳加工平台，在晶圆键合技术研究中持续探索。针对第三代氮化物半导体材料的特性，科研团队着重分析不同键合温度对 2-6 英寸晶圆界面结合强度的影响。通过调节压力参数与表面预处理方式，观察键合界面的微观结构变化，目前已在中试规模下实现较为稳定的键合效果。研究所利用设备总值逾亿元的科研平台，结合材料分析仪器，对键合后的晶圆进行界面应力测试，为优化工艺提供数据支持。在省级重点项目支持下，团队正尝试将该技术与外延生长工艺结合，探索提升半导体器件性能的新路径，相关研究成果已为后续应用奠定基础。辽宁低温晶圆键合实验室
